SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法

笨笨弯了 · 发表于 2021-12-6 06:17

本标准为SJ 2215.7-1982，标准的中文名称为半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法，本标准在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准SJ/T 2215-2015替代。
本标准适合于光耦合器集电极一发射极反向击穿电压V(BR)(CEO)的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法.pdf (139.18 KB)

15f413 · 发表于 2022-1-11 12:12

支持一下

kwy1 · 发表于 2022-5-2 05:36

感谢分享~

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SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法

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