SJ/T 2215.2-1982 半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法

穿越火线客服 · 发表于 2021-12-10 02:39

半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法（SJ/T 2215.2-1982），英文名为Method of measurement for forward voltage of semiconductor photocouplers (diodes)。
在1983-07-01开始实施。
它在2015-10-01作废。被标准SJ/T 2215-2015替代。
本标准文件共有1页。

SJ_T 2215.2-1982 半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法.pdf (29.21 KB)

794943829 · 发表于 2021-12-15 05:46

很给力~

ddddfff · 发表于 2021-12-20 19:18

感谢分享~

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SJ/T 2215.2-1982 半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法

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