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标准规范网 下载中心 行业标准 【SJ】电子行业标准 SJ_T 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法.pdf

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SJ_T 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法.pdf

 

SJ/T 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法:
半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法(SJ/T 2215.2-1982),英文名为Method of measurement for forward voltage of semiconductor photocouplers (diodes)。
在1983-07-01开始实施。
它在2015-10-01作废。被标准SJ/T 2215-2015替代。
本标准文件共有1页。

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