SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

zyz1314520 · 发表于 2021-12-10 13:16

本标准为SJ/T 11766-2020，标准的中文名称为光电耦合器件低频噪声参数测试方法，本标准在2020-12-09发布，在2021-04-01开始实施。
本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。
本标准文件共有8页。

853917198 · 发表于 2021-12-18 05:44

好资源，正好需要

曲水杨琼 · 发表于 2022-3-5 04:42

好东西！！！

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