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标准规范网 下载中心 行业标准 【SJ】电子行业标准 SJ_T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法.pdf

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SJ_T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法.pdf

 

SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法:
本标准为SJ/T 11766-2020,标准的中文名称为光电耦合器件低频噪声参数测试方法,本标准在2020-12-09发布,在2021-04-01开始实施。
本标准规定了光电耦合器件(以下简称光耦)1Hz~300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。
本标准文件共有8页。


标准封面截图:
SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

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