GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法

這才是王道！ · 发表于 2021-3-7 07:54

《砷化镓单晶位错密度的测试方法》（GB/T 8760-2020），该标准的归口单位为全国半导体设备和材料标准化技术委员会，英文名为Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide。
《砷化镓单晶位错密度的测试方法》（GB/T 8760-2020）是在2020-09-29发布，在2021-08-01开始实施。
本标准文件共有8页。

GB_T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法.pdf (3.97 MB)

卖萌呦 · 发表于 2022-7-16 19:42

不错不错

跪下含住 · 发表于 2023-8-10 06:34

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GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法

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