SJ/T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法第14部分:结温

886886 · 发表于 2021-4-11 21:47

半导体红外发射二极管测量方法第14部分:结温（SJ/T 2658.14-2016），该标准的归口单位为工业和信息化部电子工业标准化研究院，英文名为Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode. Part 14: Junction temperature。
半导体红外发射二极管测量方法第14部分:结温（SJ/T 2658.14-2016）是在2016-01-15发布，在2016-06-01开始实施。
本部分规定了半导体红外发射二极管（以下简称器件）结温的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
本标准文件共有6页。

SJ_T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法第14部分_结温.pdf (2.3 MB)

12332155555 · 发表于 2022-1-16 05:51

很给力~

johnlu · 发表于 2022-3-24 14:13

不错不错

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SJ/T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第14部分:结温

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