SJ/T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第14部分:结温:半导体红外发射二极管测量方法 第14部分:结温（SJ/T 2658.14-2016），该标准的归口单位为工业和信息化部电子工业标准化研究院，英文名为Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode. Part 14: Junction temperature。
半导体红外发射二极管测量方法 第14部分:结温（SJ/T 2658.14-2016）是在2016-01-15发布，在2016-06-01开始实施。
本部分规定了半导体红外发射二极管（以下简称器件）结温的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
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SJ_T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第14部分_结温.pdf