本标准为SJ/T 11488-2015，标准的中文名称为半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法，标准的英文名称为Test method for measuring resistivity,hall coefficient and determining hall mobility in semi-insulating GaAs single crystals，本标准在2015-04-30发布，在2015-10-01开始实施。
本标准规定了半绝缘砷化稼单晶电阻率、霍尔系数和霍尔迁移率的测量方法。本标准适用于电阻率在10^4Ω·cm～10^9Ω·cm范围内的半绝缘砷化稼单晶材料电学参数的测量。
本标准文件共有8页。 SJ_T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法.pdf(984.33 KB)
