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SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法

永远幻想 发表于 2021-4-10 16:13 | 显示全部楼层 |阅读模式

微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法（SJ/T 11705-2018），微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法（SJ/T 11705-2018）是在2018-02-09发布，在2018-04-01开始实施。
本标准文件共有8页。

SJ_T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法.pdf (4.77 MB)

器件, 地和, 微电子, 源阻抗

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guowei 发表于 2021-12-15 18:08 | 显示全部楼层

感谢分享~

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156617509 发表于 2022-3-15 23:32 | 显示全部楼层

强强强强

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