GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法

hflyer · 发表于 2021-4-11 20:06

本标准为GB/T 30866-2014，标准的中文名称为碳化硅单晶片直径测试方法，标准的英文名称为Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers，本标准在2014-07-24发布，在2015-02-01开始实施。
本标准规定了用千分尺测量碳化硅单晶片直径的方法。本标准适用于碳化硅单晶片直径的测量。
本标准文件共有5页。

GB_T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法.pdf (91.97 KB)

WWH521 · 发表于 2023-5-11 01:42

支持一下

hflyer · 发表于 2024-4-9 10:51

不错不错

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录

GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法

相关帖子