JB/T 7092-2008 银基复层电触头基本性能测量方法:银基复层电触头基本性能测量方法（JB/T 7092-2008），该标准的归口单位为全国电工合金标准化技术委员会，英文名为Method for measuring basic properties of bimetal contacts。
银基复层电触头基本性能测量方法（JB/T 7092-2008）是在2008-02-01发布，在2008-07-01开始实施。
本标准规定了银基复层电触头工作层和基层的维氏硬度、复层结合强度、工作层形状及厚度、同轴度、球面半径及锥形角度的测量。
本标准适用于以各种方法加工的铆钉型或平片型银基复层电触头。
本标准文件共有10页。
JB_T 7092-2008 银基复层电触头基本性能测量方法.pdf