SJ 20831-2002 4N红外焦平面探测器杜瓦组件参数测试方法:本标准为SJ 20831-2002，标准的中文名称为4N红外焦平面探测器杜瓦组件参数测试方法，标准的英文名称为Method for measurement and test of parameters of 4N infrared focal plane detector dewar assembly，本标准在2002-10-30发布，在2003-03-01开始实施。
本标准规定了4N红外焦平面探测器杜瓦组件(以下简称4N组件)的参数定义、测试方法和通用测试条件。4N组件由4N红外焦平面探测器和杜瓦组成。4N红外焦平面探测器是带有4级时间延迟积分(TDI)电路的红外焦平面探测器。像元总数为4N个,电学通道总数为N个。本标准适用于4N组件测试。
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SJ 20831-2002 4N红外焦平面探测器杜瓦组件参数测试方法.pdf