SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法:本标准为SJ 20788-2000，标准的中文名称为半导体二极管热阻抗测试方法，标准的英文名称为Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes，本标准在2000-10-20发布，在2000-10-20开始实施。
本标准规定了半导体二极管的稳态热阻和瞬态热阻抗的测试方法。本标准适用于整流二极管、瞬态电压抑制二极管、功率齐纳二极管和某些齐纳、信号和开关二极管稳态热阻和瞬态热阻扰的测试。
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SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法.pdf