SJ 20719-1998 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法:碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法（SJ 20719-1998），该标准的归口单位为中国电子技术标准化研究所，英文名为Method of determination X value for mercury cadmium telluride for use in X-ray fluorimetry。
碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法（SJ 20719-1998）是在1998-03-18发布，在1998-05-01开始实施。
本标准规定了用x-射线荧光法测定碲镉汞晶片的组分X值。本标准适用于X值在0.100～0.35Omol范围内的碲镉汞晶片组分X值定量测定。
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