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HG_T 2538-1993 磁带用聚酯薄膜拉伸性能测定方法.pdf

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HG/T 2538-1993 磁带用聚酯薄膜拉伸性能测定方法:

磁带用聚酯薄膜拉伸性能测定方法（HG/T 2538-1993），该标准的归口单位为化学工业部磁记录材料标准化技术归口单位，磁带用聚酯薄膜拉伸性能测定方法（HG/T 2538-1993）是在1993-09-06发布，在1994-07-01开始实施。
该标准采用了标准ISO 1184-1983,NEQ。
本标准规定了磁带用聚酯薄膜拉伸性能的树定方法。本标准适用子磁带用聚酯薄膜,也适用于软磁盘等用聚酯薄膜。
本标准文件共有5页。

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