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标准规范网 下载中心 行业标准 【SJ】电子行业标准 SJ_T 10902-1996 电子玻璃中二氧化硅的分析.pdf

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SJ_T 10902-1996 电子玻璃中二氧化硅的分析.pdf

 

SJ/T 10902-1996 电子玻璃中二氧化硅的分析:
电子玻璃中二氧化硅的分析(SJ/T 10902-1996),该标准的归口单位为无,英文名为Determination of silica (SiO2) in electronic glass。
电子玻璃中二氧化硅的分析(SJ/T 10902-1996)是在1996-11-20发布,在1997-01-01开始实施。
电子破璃中二氧化硅的分析可选所列方法中的任一个,铅破璃宜用二次脱水重量法,硼破璃宜用凝聚重量-分光光度法。
本标准文件共有4页。

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