SJ/T 10626-1995 键合金丝中杂质元素的ICP-AES测定方法:键合金丝中杂质元素的ICP-AES测定方法（SJ/T 10626-1995），该标准的归口单位为电子工业部标准化研究所，英文名为Method for determining impurities in gold wire for semiconductor lead bonding by ICP-AES。
键合金丝中杂质元素的ICP-AES测定方法（SJ/T 10626-1995）是在1995-04-22发布，在1995-10-01开始实施。
本标准适用于键合金丝中银、铜、钙、镁、锰、铁、铋、铅元素的测定。其测定范围:铅、铋为0.0008%～0.0500%,其余为0.0005～0.0500%。
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SJ_T 10626-1995 键合金丝中杂质元素的ICP-AES测定方法.pdf