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HG_T 5659-2019 光学功能薄膜黄变的测量方法.pdf

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HG/T 5659-2019 光学功能薄膜黄变的测量方法:

光学功能薄膜黄变的测量方法（HG/T 5659-2019），光学功能薄膜黄变的测量方法（HG/T 5659-2019）是在2019-12-24发布，在2020-07-01开始实施。
标准规定了光学功能薄膜在模拟的太阳光或紫外光照射下的黄变测量方法。标准的内容包括：范围、规范性引用文件、术语和定义、测量原理、测量设备及方法、试样、环境条件、测量步骤、试验结果、测试报告。
本标准文件共有6页。

标准封面截图：
HG/T 5659-2019 光学功能薄膜黄变的测量方法

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