SJ/T 11461.5.3-2016 有机发光二极管显示器件 第5-3部分：残像和寿命的测试方法:有机发光二极管显示器件 第5-3部分：残像和寿命的测试方法（SJ/T 11461.5.3-2016），英文名为Organic light emitting diode (OLED) displays-Part 5-3: Measuring methods of image sticking and lifetime。
有机发光二极管显示器件 第5-3部分：残像和寿命的测试方法（SJ/T 11461.5.3-2016）是在2016-01-15发布，在2016-06-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 62341-5-3-2013。
本标准规定了OLED产品残像试验方法和寿命测试方法。标准的范围为OLED显示器的屏体和模组。残像试验方法充分考虑了不同应用情况的显示器的异同点，对残像的测试图形，以及残像最终的表示方法都有明确和科学的规定。寿命测试方法主要针对亮度衰减进行了相关规定，同时还通过附录的形式采用了加速衰减的方式并可通过公式去推算显示器的寿命。
本标准文件共有22页。
SJ_T 11461.5.3-2016 有机发光二极管显示器件 第5-3部分：残像和寿命的测试方法.pdf