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标准规范网 下载中心 行业标准 【SJ】电子行业标准 SJ_T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法.pdf

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SJ_T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法.pdf

 

SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法:
晶体管低频噪声参数测试方法(SJ/T 11765-2020),晶体管低频噪声参数测试方法(SJ/T 11765-2020)是在2020-12-09发布,在2021-04-01开始实施。
本标准规定了晶体管1Hz~300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求,适用于双极型晶体管与场效应晶体管,其他晶体管产品可参照执行。
本标准文件共有9页。


标准封面截图:
SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

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