YB/T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法:硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法（YB/T 4590-2017），该标准的归口单位为全国钢标准化技术委员会，英文名为Determination of multi-element contents in high purity graphite used for silicon
material. Inductively coupled plasma atomic emission spectrographic method。
硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法（YB/T 4590-2017）是在2017-04-12发布，在2017-10-01开始实施。
本标准规定了电感祸合等离子体发射光谱法测定多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、
磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的方法。
本标准适用于多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的测定。
本标准文件共有7页。
YB_T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法.pdf