JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统:光栅角位移测量系统（JB/T 10034-2012），该标准的归口单位为全国量具量仪标准化技术委员会，英文名为Grating angular displacement measuring system。
光栅角位移测量系统（JB/T 10034-2012）是在2012-05-24发布，在2012-11-01开始实施。
本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″,准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10″级和±20″级的光栅角位移测量系统。
本标准文件共有16页。
JB_T 10034-2012 光栅角位移测量系统.pdf